近日,国内车载Serdes芯片新锐企业仁芯科技,宣布其首款车规级16Gbps高性能车载Serdes芯片R-LinC系列产品,在苏试宜特可靠性实验室,顺利通过了汽车电子协会制定的AEC-Q100 Grade2 质量测试与认证。
汽车应用对芯片的可靠性要求非常高,因此针对车规级芯片的质量测试标准尤为严格。AEC-Q100是由汽车电子协会AEC(Automotive Electronics Council)制定和推动的测试标准,针对每颗芯片进行严格的质量与可靠性确认,特别是对产品功能与性能进行标准规范测试。其在业内含金量极高,与消费及工业电子相比,AEC-Q100的车规认证更为严苛。
此次认证的项目包括加速环境应力实验(Accelerated Environment Stress Test),加速寿命模拟实验(Accelerated Lifetime Simulation Tests),封装组装整合实验(Package Assembly Integrity Tests),晶粒制造可靠性实验(Die Fabrication Reliability Tests),电器特性确认测试(Electrical Verification Tests)等。
仁芯科技R-LinC全系列产品,为了保证突出的质量和可靠性,采用业内头部的生产制造供应商和测试机构。在此次测试中,苏试宜特实验室严格按照AEC-Q100测试标准,并且仁芯在核心测试项目上比如HTOL, 采用业界唯一Tx和Rx产品联测方案,模拟芯片真实使用场景。同时,采用了加大测试样品数量以及更严苛的实验条件等方式,结果表明,全系列产品无一例失效!比如,在TX 产品91601上,HTOL标准的数量是77*3批次=231颗,0失效,但在实际实验中测试了953颗,0失效。同时,仁芯的此次测试,产品种类之多,实验数据之完整,在同行业中属于领先水平。