11月20-21日，中国集成电路设计业年度盛会——ICCAD 2025将在成都西博城隆重举行。作为国内集成电路设计领域的标杆盛会，ICCAD 汇聚全产业链精英，聚焦技术革新与产业协同。本次，爱德万测试将带来主题演讲，分享算力浪潮下芯片测试的破局之道。
当前，算力需求的爆发式增长不仅重塑产业格局，更给芯片测试带来双重影响——既催生前所未有的技术挑战，也孕育着效率革新的机遇。从超高带宽接口到Chiplet与3D封装，从功耗与热管理到光电互连，芯片的每一次高性能突破，都是对测试技术的极限挑战。
爱德万测试（中国）业务发展总监葛樑将分享爱德万测试如何通过先进的设计理念和创新的测试方案，满足新一代芯片的严苛需求。
