在芯片复杂度不断攀升的今天，Scan测试面临着前所未有的挑战：门数激增、故障模型多样化、工艺演进加速，测试时间和成本压力剧增。如何在有限的测试时间内完成海量数据的处理，成为业界亟需解决的问题
在9月18日的Synopsys新思科技开发者大会上，Advantest将携手Synopsys，展示基于新一代SCAN技术的联合测试生态，覆盖芯片从ATE到SLT再到IST的完整生命周期。
核心平台——V93000 EXA Scale，通过两款关键测试板卡，全面支持不同Scan路径：
Pin Scale 5000:
支持Streaming Fabric Scan架构，提升Scan带宽和速率，有效提升Scan throughput。
Link Scale:
支持Functional HSIO Scan，通过USB/PCIe接口，适配从CP/FT到SLT与IST各环节的测试场景。
一套平台，贯穿全流程
测试内容可复用，流程可衔接
各环节之间无缝切换，支持量产
测试数据可关联，提升诊断效率
无论采用哪种Scan方式，V93000 EXA Scale平台都提供完整、灵活、可扩展的解决方案，助力芯片测试更高效、更智能。
2025新思科技开发者大会技术论坛
2025.9.18 / 13: 00-18: 00
上海西岸国际会展中心
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