泰矽微“一种芯片测试方法、装置、系统和介质”专利公布

作者：爱集微 01-03 20:20

来源：爱集微 #泰矽微#

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天眼查显示，上海泰矽微电子有限公司“一种芯片测试方法、装置、系统和介质”专利公布，申请公布日为2024年11月29日，申请公布号为CN119044739A

本发明实施例提供的一种芯片测试方法、装置、系统和介质，具有以下有益效果：通过将指定通用输入输出端口配置为输入模式，并使能中断模式；配置指定通用输入输出端口的接收数据长度为预设长度；同步指定通用输入输出端口的数据采集时钟与上位机的时钟一致；设定数据采样点；解析上位机发送的指令信息，所述指令信息用于配置待测芯片的功能；通过通用串口打印接口，向上位机发送与待测芯片的功能相关的测试数据，以使上位机对所述测试数据进行校验。本发明实现了待测芯片与上位机的交互，从而实现自动化测试，减少了对测试人员的依赖，有效提高了测试效率。